Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия
Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Н. Иванов, Л.Н. Расторгуев
Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанные на различных видах взаимодействия быстрых электронов с веществом.
年:
1982
出版商:
Металлургия
語言:
russian
頁數:
632
文件:
PDF, 29.74 MB
IPFS:
,
russian, 1982
Litres
想添加您的書店？ 通過 support@z-lib.do 與我們聯繫
轉換文件
更多的搜索結果
其他特權 
![Полежаев Ю.О., Кондратьева Т.М. — Начертательная геометрия [Электронный ресурс] : (проекционная геометрия с элементами компьютеризации) : учебник для студентов, обучающихся по направлению - 270100 "Строительство"](https://s3proxy.cdn-zlib.se/covers200/collections/genesis/4b4d9e3e6dce588652aae5f18082daef1fb76f065ee01dcd2533e013fca91c87.jpg)
